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학위논문 상세정보

VSI 技法을 이용한 X^( ̄)-CRL 合成 管理圖의 設計 원문보기
Design of X^( ̄)-CRL synthetic control chart using VSI technique

  • 저자

    배홍석

  • 학위수여기관

    東亞大學校 大學院

  • 학위구분

    국내박사

  • 학과

    산업공학과

  • 지도교수

  • 발행년도

    2004

  • 총페이지

    x, 121p.

  • 키워드

    VSI기법 X^( ̄)-CRL 합성관리도;

  • 언어

    kor

  • 원문 URL

    http://www.riss.kr/link?id=T10070048&outLink=K  

  • 초록

    오늘날 제조 환경에서, 통계적 공정관리(statistical process control : SPC)는 제조 시스템의 생산력향상과 지속적인 공정변동의 모니터를 통하여 공정의 품질과 제품의 품질을 개선하는데 유용하게 사용되고 있는 문제해결도구이다. 통계적 공정관리의 여러 가지 기법들에 대한 일반적인 연구 추세는 초기 개발단계에서 이루어졌던 가정들에서 설정한 제약을 완화하거나 혹은 보다 공정의 변동을 빠른 시간에 감지하고자 하는 것에 초점을 맞추고 있으나, 이러한 방법들은 현실에서 잘 들어맞지 않는 경우가 많은 것이 사실이다. 본 연구는 기존의 X ̄ 관리도가 가지는 장점인 사용의 효율성과 작은 변동을 감지하기 힘들다는 단점을 함께 고려하는 관리도를 개발하는데 목적을 두고 있다. 따라서 본 연구에서는 VSI 관리도 기법을 합성 관리도에 적용함으로써 보다 공정의 변동을 잘 감지함과 동시에 현장에서의 사용의 편리성도 고려한 새로운 VSI X ̄-CRL 합성 관리도를 개발하였다. 또한 개발된 관리도의 경제적 최적모수 설계를 함으로써 높은 품질과 낮은 비용을 동시에 성취할 수 있는 관리도를 제안하게 되었다. 본 연구에서 얻어진 결과를 요약하면 다음과 같다. 첫째, 공정이 정규분포를 따르는 경우에 개발된 관리도의 통계적 수행도 측면에서는 CRL/S들 관리도의 관리한계 L값에 관계없이 공정평균의 이동을 감지하는 능력은 제안된 VSI X ̄-CRL 합성 관리도가 가장 우수하게 나왔다. 둘째, 샘플 크기가 한개인 개개치 관리도를 적용하는 경우에는 공정의 작은 변동에서는 L값이 커질수록 공정평균의 이동에 대한 감지가 빠른 것으로 나타났고, 큰 변동에서는 L값이 5이상으로 사용하는 것을 제안할 수 있다. 또한 일반적인 X ̄ 관리도에서 많이 사용하는 샘플 크기 4, 5에서 VSI X ̄-CRL 합성 관리도를 운용하는 경우에 작은 변동과 큰 변동을 빨리 감지하는데 있어서 적절하게 만족되는 것은 L이 4-6이 적당하다. 셋째, VSI X ̄-CRL 합성 관리도의 경제적 최적모수는 공정평균의 이동이 δ=1.0σ인 경우에는 L=5, n=4에서 비용이 최소가 되고, CRL/S 관리도의 관리모수는 k=2.239, k'=0.974, d_(1)=0.100 d_(2)=1,397로 결정된다. 이때 제안된 관리도는 FSI 관리도에 비해 관리최저비용 3.04%의 비용 절감 효과를 가져온다. 넷째, 지수분포의 모수 λ를 증가시킴에 따라서 비용은 점차적으로 증가하는 경향을 보이고 있으며, 각 관리도의 관리한계선은 그다지 큰 영향을 받지 않지만 샘플링 간격 d_(1), d_(2)은 λ 증가에 대하여 이상원인을 발견하기 위한 시간을 점점 줄이기 위하여 샘플링 간격을 짧게 만든다. 본 연구에서 제안한 VSI X ̄-CRL 합성 관리도는 사용에 있어서는 런 규칙을 적용함으로써 Shewhart X ̄ 관리도보다 그다지 힘들지 않게 사용할 수 있고, 수행도 측면에서는 Shewhart X ̄ 관리도 보다 월등히 우수하다는 것을 알 수 있다. 또한 제안된 경제적 설계에 현장에서 사용되는 비용모수들을 적용함으로써 경제적으로 최적인 관리모수를 설정하는데 어려움이 없을 것이다.


    In manufacture environment today, SPC has been used as a useful problem solution tool, which improves quality of process and product through the productive capacity elevation of manufacture system and monitor of continuous process change. General research about statistical process control is focused by mitigating the restrictions that establish in despotic rules consisted at early development stage, or detecting the change of process rapidly. These methods, however, do not fit perfectly in actuality. The goal of the proposed research in this dissertation is to develop the control chart that considers the advantage of efficiency in X ̄ control chart and short-coming of difficulty in detecting the small shift, at the same time. This research, therefore, develops new VSI X ̄-CRL synthetic control chart that considers convenience of use in the field, and perception of change of process applying VSI techniques to synthetic control chart, simultaneously. Proposed control chart, also, can accomplish high quality as well as low cost by designing optimal economic parameter of control chart. The results in this study are summarized as follows : First, in case that the process follows normal distribution, the proposed VSI X ̄-CRL synthetic control chart in detecting process mean shift was performed the most excellently in aspect of statistical performance, regardless of control limit L of CRL/S control chart. Second, Detecting process shift is faster, L value is greater in small shift of process, in case that applies individual control chart, L value may be proposed more than 5 in large shift. Also, L value is proper at 4~6 that detects rapidly the small shift as well as large, in case of VSI X ̄-CRL synthetic control chart in sample size 4 or 5 that uses the most in traditional control chart. Third, in case of process mean shift δ=1.0σ, when economic optimal parameter of VSI X ̄-CRL synthetic control chart is at L=5, n=4, the expense amount is the least. The control parameters of CRL/S control chart are determined as k=2.239, k'=0.974, d_(1)=0.100 and d_(2)=1.397. Proposed control chart brings cost-cutting effect of 3.04% control expense less than FSI control chart. Fourth, control cost shows a tendency to increase gradually as increasing λ, parameter of exponential distribution. There is no effect in control limit effect of each control chart by increasing λ, but sampling interval, d_(1) and d_(2), goes shortly to reduce time to find special causes. Proposed VSI X ̄-CRL synthetic control chart in this research can use more easily than traditional control chart along with applying run rule and the performance is superior to traditional control chart. It may not be difficult to establish the optimal economic control parameters to apply the practical cost parameters in field.


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