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학위논문 상세정보

Negative Bias Temperature Instability in p-MOSFET 원문보기

  • 저자

    김효준

  • 학위수여기관

    성균관대학교 일반대학원

  • 학위구분

    국내박사

  • 학과

    반도체디스플레이공학과

  • 지도교수

    노용한

  • 발행년도

    2014

  • 총페이지

    72 p.

  • 키워드

    NBTI reliability MOSFET channel length channel dopant body bias substrate hot hole gate oxide thickness oxide field;

  • 언어

    eng

  • 원문 URL

    http://www.riss.kr/link?id=T13539718&outLink=K  

  • 초록

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