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반도체 메모리의 테스트를 위한 MTA(Memory TestAble code)코드
MTA(Memory TestAble) Code for Testing in Semiconductor Memories

이중호    (울산대학교 전자공학과   ); 조상복    (울산대학교 전자공학과  );
  • 초록

    This paper proposes a memory testable code called MTA(Memory TestAble) code which is based on error correcting code technique for testing functional faults in semiconductor memories. The characteristics of this code are analyzed and compared with those of conventional codes. The developed decoding technique for this code can reduce the decoder circuits up to 70% and obtain two-times faster decoding speed than other codes such as hamming code or Hsiao code. The MTA code is eccectively applicable to parallel testing of semiconductor memories because it has the same information length and parity length. It can detect from single error functional faults to triple error in semiconductor memories.


 저자의 다른 논문

  • 이중호 (2)

    1. 1989 "Domino CMOS NOR-NOR Array Logic의 Testable Design에 관한 연구" 전자공학회논문지 = Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics 26 (6): 131~139    
  • 조상복 (26)

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