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빠른 무해 인식에 의한 효율적인 테스트 패턴 생성
An efficient test pattern generation based on the fast redundancy identification

조상윤    (LG반도체 MP Center   ); 강성호    (연세대학교 전기공학과  );
  • 초록

    The fast redundancy identification is required to perform an efficient test pattern genration. Due to the reconvergent fanouts which make the dependency among objectives and the fault propagation blocking, there may exist redundnat faults in the cirucit. This paper presents the isomorphism identification and the pseudo dominator algorithms which are useful to identify redundant faults in combinational circuits. The isomorphism identification algorithm determines whether mandatory objectives required for fault detection cannot be simultaneously satisfied from primary input assignments or not using binary decision diagrma. The pseudo dominator algorithm determines whether faults propagation is possible or not by considering all paths at a given fanout node. Several experiments using ISCAS 85 benchmark circuits demonstrate the efficiency and practicability of the algorithms.


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    2. 1997 "고집적 회로에 대한 고속 경로지연 고장 시뮬레이터" 정보처리논문지 = The transactions of the Korea Information Processing Society 4 (1): 298~310    
    3. 1998 "Content addressable memory의 이웃패턴감응고장 테스트를 위한 내장된 자체 테스트 기법" 電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. C c35 (8): 1~9    
    4. 1998 "병렬 테스트 방법을 적용한 고집적 SRAM을 위한 내장된 자체 테스트 기법" 電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. C c35 (8): 10~22    
    5. 1998 "VLSI 테스팅 특집" 電子工學會誌 = The journal of Korea Institute of Electronics Engineers 25 (11): 18~18    
    6. 1998 "VLSI 테스팅의 기술동향" 電子工學會誌 = The journal of Korea Institute of Electronics Engineers 25 (11): 19~30    
    7. 1998 "가중치 집합 최적화를 통한 효율적인 가중 무작위 패턴 생성" 電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. C c35 (9): 29~37    
    8. 1999 "스캔 환경에서 간접 유추 알고리즘을 이용한 경로 지연 고장 검사 입력 생성기" 정보처리논문지 = The transactions of the Korea Information Processing Society 6 (6): 1656~1666    
    9. 1999 "SET기반 전자상거래의 보안위협요소 분석 및 대응 방안에 관한 연구" 한국전자거래(CALS/EC)학회지 = Journal of Korean institute of CALS/EC 4 (2): 59~79    
    10. 1999 "다중 주사 경로 회로 기판을 위한 내장된 자체 테스트 기법의 연구" 電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. C c36 (2): 14~25    

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