본문 바로가기
HOME> 논문 > 논문 검색상세

논문 상세정보

Hot carrier 현상에 의한 CMOS 차동 증폭기의 성능 저하
The performance degradation of CMOS differential amplifiers due to hot carrier effects

박현진    (인천대학교 전자공학과   ); 유종근    (인천대학교 전자공학과   ); 정운달    (인천대학교 전자공학과   ); 박종태    (인천대학교 전자공학과  );
  • 초록

    The performance degradation of CMOS differential amplifiers due to hot carrier effect has been measured and analyzed. Two-state CMOS amplifiers whose input transistors are PMOSFETs were designed and fabriacted using the ISRC CMOS 1.5.mu.m process. It was observed after the amplifier was hot-carrier stressed that the small-signal voltage gain and the input offset voltage increased and the phase margin decreased. The performance variation results from the increase of the transconductances and gate capacitances of the PMOSFETs used as input transistors in the differential input stage and the output stage and also resulted from the decrease of their output conductances. After long-term stress, the amplifier became unstable. The reason might be that its phase margin was reduced due to hot carrier effect.


 저자의 다른 논문

  • 유종근 (43)

    1. 1995 "양 방향 Hot Carrier 스트레스에 의한 PMOSFET 노쇠화" 電子工學會論文誌. Jounnal of the Korea institute of telematics and electronics. A. A a32 (6): 59~66    
    2. 1996 "Deep submicrometer PMOSFET의 hot carrier 현상과 소자 노쇠화" 電子工學會論文誌. Jounnal of the Korea institute of telematics and electronics. A. A a33 (4): 129~135    
    3. 1996 "고정밀 MOSFET 문턱전압 추출회로 설계" 한국통신학회논문지 = The journal of the Korean institute of communication science 21 (12): 3246~3255    
    4. 1997 "Hot-Carrier 현상에 의한 Folded-Cascode CMOS OP-Amp의 성능 저하" 電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. D d34 (12): 39~45    
    5. 1998 "Ping-Pong Control을 사용한 옵셋보상된 저전압 Rail-to-Rail CMOS 증폭회로 설계" 電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. C c35 (12): 40~48    
    6. 1998 "Hot carrier에 의한 RF NMOSFET의 성능저하에 관한 연구" 電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. D d35 (10): 60~66    
    7. 1998 "Hot electron에 의한 RF-nMOSFET의 DC및 RF 특성 열화 모델" 電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. D d35 (11): 62~69    
    8. 2000 "저전력 CMOS On-Chip 기준전압 발생회로" 전기전자학회논문지 = Journal of IKEEE 4 (2): 181~191    
    9. 2001 "새로운 감폭회로를 사용한 CMOS RFID 트랜스폰더 IC 설계" 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 38 (3): 211~219    
    10. 2003 "CMOS IF PLL 주파수합성기 설계" 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 40 (8): 598~609    
  • 정운달 (3)

  • 박종태 (58)

 활용도 분석

  • 상세보기

    amChart 영역
  • 원문보기

    amChart 영역

원문보기

무료다운로드
  • NDSL :
유료다운로드

유료 다운로드의 경우 해당 사이트의 정책에 따라 신규 회원가입, 로그인, 유료 구매 등이 필요할 수 있습니다. 해당 사이트에서 발생하는 귀하의 모든 정보활동은 NDSL의 서비스 정책과 무관합니다.

원문복사신청을 하시면, 일부 해외 인쇄학술지의 경우 외국학술지지원센터(FRIC)에서
무료 원문복사 서비스를 제공합니다.

NDSL에서는 해당 원문을 복사서비스하고 있습니다. 위의 원문복사신청 또는 장바구니 담기를 통하여 원문복사서비스 이용이 가능합니다.

이 논문과 함께 출판된 논문 + 더보기