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이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트와 진단 알고리듬
An Efficient Test and Diagnosis Algorithm for Dual Port Memories

김지혜   (삼성전자 반도체 총괄 시스템 LSI 사업부CC0101996  ); 김홍식   (LG전자 시스템 IC 사업CC0145603  ); 김상욱   (연세대학교 전기전자공학UU0000936  ); 강성호   (연세대학교 전기전자공학부UU0000936  );
  • 초록

    이중 포트 메모리의 사용이 증가함에 따라, 이중 포트 메모리의 테스트와 진단이 중요하게 여겨지고 있다. 본 논문에서는 메모리의 테스트 과정에서 고장이 검출되었을 때, 발생한 고장의 종류를 세부적으로 분류할 수 있는 새로운 진단 알고리듬을 제안한다. 본 알고리듬에서는 진단을 위한 패턴뿐만 아니라 테스트 결과를 통하여 얻을 수 있는 정보를 이용하여 진단 과정의 효율성을 증대하였으며, 이중 포트 메모리에서 발생할 수 있는 다양한 고장에 대하여 진단이 가능하다.


    As dual port memories are being frequently used, test and diagnosis for dual port memories becomes more important. In this paper, anew diagnosis algerian which can classify faults in detail when the fault is detected during test process is developed. The new algerian increases its efficiency by using the information that can be obtained by test results as well as results using additional diagnostic pattern set. In addition the algorithm can diagnose various fault models for dual port memories.


  • 주제어

    이중 포트 메모리 .   고장 모델 .   고장 테스트 .   고장 진단.  

  • 참고문헌 (13)

    1. S. Hamdioui, A. J. van de Goor, 'Thorough testing of any multiport memory with linear tests,' IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, pp. 217 -231, 2002 
    2. 김지혜, 배상민, 송동섭, 강성호,'March C-에 바탕을 둔 이중 포트 메모리를 위한 테스트 알고리듬,' 제 3회 한국 테스트 학술대회, pp. 140-144, 2002 
    3. V.A. Vardanian, Y. Zorian, ' A March-based fault location algorithm for static random access memories,' Proc, of IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, pp. 10-12, 2002 
    4. 박한원, 강성호, '이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬,' 전기학회 논문지 50권 4호, pp. 192-200, 2001     
    5. J. F. Li, K. L. Cheng, C. T. Huang and C. W. Wu, 'March-based RAM diagnosis algorithms for stuck-at and coupling faults,' Proc. of International Test Conference, pp.758 -767, 2001 
    6. C. F. Wu, C. T. Huang, K. L.Cheng, C. W. Wang, C. W. Wu, 'Simulation-based test algorithm generation and port scheduling for multi-port memories.' Proc. of Design Automation Conference, pp. 301 -306, 2001 
    7. P. Nagaraj, S. Upadhyaya, K. Zarrineh, D. Adams, 'Defect analysis and a new fault model for multi-port SRAMs,' Proc. of IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, pp. 366 -374, 2001 
    8. M. F. Chang, W. K. Fuchs and J. H. Patel, 'Diagnosis and repair of memory with coupling faults,' IEEE Trans. on computers, pp. 493-500, 1989 
    9. T. J. Bergfeld, D. Niggemeyer and E. M. Rudnick, 'Diagnostic testing of embedded memories using BIST,'Proc. of IEEE Design Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, pp. 305-309, 2000 
    10. C. W. Wang, C. F. Wu, J. F. Li, C. W. Wu, T. Teng , K. Chiu and H. P. Lin 'A Built-In Self-Test and Self-Diagnosis Scheme for Embedded SRAM,' Proc. of the NinthAsian Test Symposium, pp. 45 -50, 2000 
    11. S. J. Wang, C. J. Wei, 'Efficient built-in self-test algorithm for memory', Proc. Of Asian Test Symposium, pp. 66-70, 2000 
    12. C. T. Juang, J. R.Huang, 'A programmable built-in self-test core for embedded memories,' Proc. Of Asia and South Pacific Design Automation Conference, pp. 11-12, 2000 
    13. S. Hamdioui, M. Rodgers, A.J. Van de Goor, D.Eastwick, 'March tests for realistic faults in two-port memories,' Proc. of IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, pp. 73 -78, 2000 

 저자의 다른 논문

  • 김지혜 (3)

    1. 2004 "SRAM 기반의 FPGA 연결선을 위한 고장 진단 알고리듬 개발" 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 41 (4): 113~122    
    2. 2004 "순차 회로를 위한 효율적인 혼합 고장 진단 알고리듬" 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 41 (5): 51~60    
    3. 2012 "SNS 사용자의 관계유형에 따른 사회감성 모델의 타당화 분석" 감성과학 = Korean Journal of the science of Emotion & sensibility 15 (2): 283~296    
  • 김상욱 (1)

  • 강성호 (68)

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