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효율적인 불량화소 검출 알고리듬 및 하드웨어 구현
An Efficient Dead Pixel Detection Algorithm and VLSI Implementation

안지훈   (연세대학교 전기전자공학과UU0000936  ); 이원재   (연세대학교 전기전자공학과UU0000936  ); 김재석   (연세대학교 전기전자공학과UU0000936  );
  • 초록

    CMOS image sensor는 집적회로 구현이 가능하여 사이즈를 줄일 수 있고 저전력으로 구현이 가능하며 효율적인 영상처리를 할 수 있다는 장점을 갖고 있다. 그러나 불량화소의 발생은 곧 화질의 저하로 연결되기 때문에 불량화소를 검출하는 방법에 대한 연구가 필요하다. 본 논문에서는 CMOS image sensor에 사용되는 효율적인 불량화소 검출 알고리듬과 그 하드웨어를 제안하였다. 불량화소를 검출하기 위하여 본 논문에서 제안한 방법은 Scan, Trace, Detection의 단계를 거친다. 시뮬레이션 결과 특정 조건에서는 99.99%의 불량화소 걸출 성공률을 나타냈다. 제안된 알고리듬은 Verilog HDL로 구현되었으며, 0.25 CMOS standard cell library에서 3.2k개의 게이트 수를 갖는다.


    In this paper, we propose the efficient dead pixel detection algorithm for CMOS image sensors and its hardware architecture. The CMOS image sensors as image input devices are becoming popular due to the demand for miniaturized, low-power and cost-effective imaging systems. However, the presence of the dead pixels degrade the image quality. To detect the dead pixels, the proposed algorithm is composed of scan, trace and detection step. The experimental results showed that it could detect 99.99% of dead pixels. It was designed in a hardware description language and total logic gate count is 3.2k using 0.25 CMOS standard cell library.


  • 주제어

    Dead pixel .   Bad pixel .   CMOS image sensor .   Image enhancement .   detection.  

  • 참고문헌 (2)

    1. Jose Manuel Lopez-Alonso, Javier Alda, 'Bad pixel identification by means of principal components analysis,' Optical Engineering, Vol. 41, No. 9, pp. 2152-2157, September 2002 
    2. Xu Youqing, Yu Shengsheng, Zhou Jingli, Fang Zuyuan 'Detection and Compensation of Bad Pixel for CMOS Image Sensor,' International Conference on Sensor and Control Techniques (ICSC 2000) Proceedings of SPIE, Vol. 4077, pp. 208-212, Wuhan, China, June 2000 
  • 이 논문을 인용한 문헌 (1)

    1. An, Jee-Hoon ; Shin, Seung-Gi ; Lee, Won-Jae ; Kim, Jae-Seok 2007. "An Efficient Dead Pixel Detection Algorithm Implementation for CMOS Image Sensor" 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체, 44(4): 55~62     

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