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한국현미경학회지 = Korean journal of microscopy v.39 no.2, 2009년, pp.175 - 183  
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HRTEM에서 50 pm 이하 분해를 주는 결정 밑 표면 파동함수의 2차 도함수의 시뮬레이션 영상들
Simulated Images of the Second Derivative of the Exit-plane Wavefunction Giving Sub-50 pm Resolutions in HRTEM

김황수    (경성대학교 이과대학 물리학과  );
  • 초록

    이 논문에서 50 pm 이하의 원자열 분해상을 효과적으로 보여 주는 결정 밑 표면 파동함수(EPW)의 음(-)의 2차 도함수의 시뮬레이션 영상들이 나타나 있다. 그리고 해당 EPW는 HRTEM에서 일련의 비 초점 단계의 관찰 영상으로부터 얻을 수 있다. 이 논문에 나타난 시뮬레이션한 영상들은 대체로 50 pm 이하의 원자열 간격을 주는 Si과 InAs의 [114] 및 [116] 방위 축에 대한 것이다. 이 방법의 정당성에 대한 이론적 이유가 운동학적 회절이론을 기초로 한 분석에서 주어졌다. 그리고 그 응용성의 한계도 논의되었다.


    In this paper we present sub-50 pm resolution images of atom columns simulated with the negative of the second derivative of the exit-plane wave function (EPW). The EPW can be retrieved from a focal series reconstruction in the (high resolution) transmission electron microscopy (HRTEM). The simulated images are for Si and InAs in [114] and [116] orientations, which give about sub-50 pm separations of atom columns. The theoretical reason for the validity of this method is given from analysis based on the kinematical diffraction theory, and the limitation for applicability of this method also is discussed.


  • 주제어

    Exit-plane wave function .   Sub-50 pm HRTEM images.  

  • 참고문헌 (15)

    1. Hirsch PB, Howie A, Nicholson RB, Pashley DW, Whelan MJ: Electron microscopy of thin crystals, Krieger Publ., Huntington (N.Y.), 1977 
    2. Jia CL, Lentzen M, Urban K: High-resolution transmission electron microscopy using negative spherical aberration. Microsc Microanal 10 : 174-184, 2004 
    3. Kim HS, Sheinin SS: On effects of exit and entrance surface inclination on structure images. Ultramicroscopy 51 : 109-116, 1993 
    4. Lentzen M: Progress in aberration-corrected high-resolution transmission electron microscopy using hardware aberration correction. Micros Microanal 12 : 191-205, 2006 
    5. Self PG, O'Keefe MA, Buseck PR, Spargo AEC: practical computation of amplitudes and phases in electron diffraction. Ultramicroscopy 11 : 35-52, 1983 
    6. Spence JCH: Experimental high resolution electron microscopy. Oxford Univ Press, Oxford, 1981 
    7. Cowley JM, Moodie AF: Fourier images IV : The phase grating. Proc Phys Soc76 : 378-384, 1960 
    8. O'Keefe MA, Allard LF, Blom DA. Tackling the size problem: seeing atoms smaller for better TEM resolution. Microsc Microanal 13 : 872-873, 2007 
    9. Coene W, Janssen G, Op de Beeck M, Van Dyck D: Phase retrieval through focus variation for ultra-resolution in field-emission transmission electron microscopy. Phys Rev Lett 69 : 3743-3746, 1992 
    10. O'Keefe MA: Seeing atoms with aberration-corrected sub-$\AA$ngstrom electron microscopy. Ultramicroscopy 108 : 196-209, 2008 
    11. Coene WMJ, Thust A, Op de Beeck M, Van Dyck D: Maximumlikelihood method for focus-variation image reconstruction in high resolution transmission microscopy. Ultramicroscopy 64 : 109-135, 1996 
    12. Kisielowski C, Freitag B, Bischoff M, van Lin H, Lazar S, Knippels G, Tiemeijer P, van der Stam M, von Harrach S, Stekelenburg M, Haider M, Uhlemann S, Muller H, Hartel P, Kabius B, Miller D, Petrov I, Olson EA, Donchev T, Kenik EA, Lupini AR, Bentley J, Pennycook SJ, Anderson IM, Minor AM, Schmid AK, Duden T, Radmilovic V, Ramasse QM, Watanabe M, Erni R, Stach EA, Denes P, Dahmen U: Detector of single atoms and buried defects in three dimensions by aberration-corrected electron microscope with 0.5-$\AA$ information limit. Microsc Microanal 14 : 469-477, 2008 
    13. Allen LJ, Oxley MP, Ishizuka K: Electron microscope Cs correction using iterative wave-function reconstruction. Microscopy and Analysis 52 : 5-7, 2006 
    14. Tillmann K, Thust A, Urban K: Spherical aberration correction in tandem with exit-plane wave function reconstruction: interlocking tools for the atomic scale imaging of lattice defects in GaAs. Micros Microanal 10 : 185-198, 2004 
    15. Allen LJ, McBride W, O'Leary NL, Oxley MP: Exit wave reconstruction at atomic resolution. Ultramicroscopy 100 : 91-104, 2004 

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    2. 2003 "LACBED 패턴으로부터 전자현미경 상에 대한 회절도형의 회전각을 측정하는 간단한 방법" 한국전자현미경학회지 = Korean journal of electron microscopy 33 (3): 187~193    
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    8. 2007 "Al-Cu-Mg 합금의 석출입자, 특히 S-상 입자들에 의한 변형장의 LACBED 관찰" 한국전자현미경학회지 = Korean journal of electron microscopy 37 (2): 123~133    
    9. 2008 "HRTEM영상 분석에 대한 IWFR 방법의 고찰 및 응용" 한국현미경학회지 = Korean journal of microscopy 38 (1): 63~72    
    10. 2010 "2차원적인 단층 및 복층 그래핀 결정에 대한 원자분해 투과전자현미경 영상 시뮬레이션 연구" 한국현미경학회지 = Korean journal of microscopy 40 (1): 21~28    

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