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다단계 임계화와 확률 밀도 함수를 이용한 TFT-LCD 결함 검출
TFT-LCD Defect Detection Using Multi-level Threshold and Probability Density Function

김세윤    (경북대학교 전자전기컴퓨터학부   ); 정창도    (경북대학교 수학과   ); 윤병주    (경북대학교 전자전기컴퓨터학부   ); 주영복    (연세대학교 컴퓨터과학과   ); 최병재    (대구대학교 전자공학부   ); 박길흠    (경북대학교 전자전기컴퓨터학부  );
  • 초록

    TFT-LCD 영상은 불균일한 휘도 분포와 노이즈 신호, 그리고 결함 신호로 구성되어 있다. 결함 신호는 주변 정상 영역의 화소값 분포에 비해 일정한 변화를 가지는 영역으로서 육안 검출이 어려운 수준의 한도성 결함을 포함한다. 본 논문에서는 다단계 임계화를 통해 신뢰할 수 있는 수준까지 결함과 결함 유사 영역을 모두 검출하는 과검출(過檢出)을 수행하고, Parzen Window를 이용한 확률 밀도 함수를 통해 실제 결함이 아닌 유사 영역을 제거하는 알고리즘을 제안하였다. 제안한 알고리즘의 유효성을 확인하기 위해 다양한 실험 영상에 대한 실험 결과를 살펴보고 실제 TFT-LCD 영상에 적용하여 봄으로써 신뢰성 있는 결함 검출에 적합함을 입증하였다.


    TFT-LCD image consists of ununiform background, random noises and target defect signal components. Defects in TFT-LCD have some intensity variations compared to background region. It is sometimes difficult for human inspectors to figure out. In this paper, we propose multi-level threshold scheme for detection of the real defect using probability density function with Parzen Window. The experimental results show that the proposed algorithms produce promising results and can be applied to automated inspection systems for finding defects in the TFT-LCD image.


  • 주제어

    컴퓨터 비전 .   다단계 임계화.  

  • 참고문헌 (9)

    1. S. I. Baek, W. S. Kim, T. M. Koo, I. Choi, and K. H. Park, 'Inspection of defect on LCD panel using polynomial approximation,' TENCON 2004, vol. A21-24, pp. 235-238, Nov. 2004 
    2. G. B. Lee, C. G. Lee, S. Y. Kim, and K. H. Park, 'Adaptive surface fitting for inspection of FPD devices using multilevel B-spline approximation,' 21st International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications, vol. 2, pp, 205-208, 2006 
    3. S. Theodoridis, and K. Koutroumbas, Pattern Recognition third edition, pp. 43-45 
    4. P. K .Sahoo, S. Soltani, and A. K. C. Wong, 'A survey of thresholding techniques,' Comput. Vis. Graph. Image Process, vol. 41, pp. 233-260, 1988 
    5. L. Vincent and P. Soille, 'Watersheds in Digital Spaces: An Efficient Algorithm Based on Immersion Simulation,' IEEE Trans. Pattern Analysis and Machine Intelligence, vol. 13, no. 6, pp. 583-598, June. 1991 
    6. J. H. Oh, D. M. Kwak, K. B. Lee, Y. C. Song, D. H. Choi, and K. H. Park, 'Line defect detection in TFT-LCD using directional filter bank and adaptive multilevel thresholding,' Key Engineering Materials, vol. 270-273, pp. 233-238, 2004 
    7. W. S. Kim, D. M. Kwak, Y. C. Song, D. H. Choi, and K. H. Park, 'Detection of Spot-Type Defects on Liquid Crystal Display Modules,' Key Engineering Materials, vol. 270-273, pp. 808-813, 2004 
    8. John F. Haddon, 'Generalised Thresholding Selection for Edge Detection,' Pattern Recongnition, vo1. 21, no.3, pp. 195-203, 1988 
    9. J. Jang, S. K. Lim, and M. H. Oh, 'Technology development and production of flat panel displays in Korea,' Proceedings of the IEEE. vol. 90, no. 4, pp. 501-513, 2002 

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