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표면거칠기측정에 대한 측정불확도 추정방법
Verification on the Measurement Uncertainty for Surface Roughness

김창순    (청원대학교 클러스터사업단   ); 박민원    (창원대학교 전기공학과  );
  • 초록

    Evaluation of uncertainty is an ongoing process that can consume time and resources. It can also require the service of someone who is familiar with data analysis techniques. Therefore, it is important for laboratory personnel who are approaching uncertainty analysis for the first time to be aware of the resources required. International inclination of measurement filed to guarantee the traceability and confidence of measurement results discards the error concept and instead analyzes the measurement uncertainty. In this paper, we analyzed the elements of measurement uncertainty on surface roughness test which are the important things in mechanical parts test. Repeat the test by 3 men, the measurement uncertainty could be calculated.


  • 주제어

    표면거칠기 .   측정불확도 .   코크란 검정 .   그럽스 검정.  

  • 참고문헌 (9)

    1. Korea Laboratory Accreditation Scheme, http://www.kolas.go.kr. 
    2. Noh, H., "Development of an Evaluation Method for Standard Surface Roughness Specimens," A Master's Thesis, Industrial Engineering, Hanyang University, 2008. 
    3. Park, S., "Experimental Epidemiolog Statistics for Veterinary Science," EPUBLIC, pp. 203-206, 297- 306, 531-536, 2007. 
    4. Korea Testing & Research Institute, "Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement," 2008. 
    5. KS B ISO 0161, "Surface roughness - Definitions and designation," 2004. 
    6. KS B ISO 0162, "Surface roughness - Part 1: Surface and its parameters," 2004. 
    7. KS B ISO 4287, "Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Terms, definitions and surface texture parameters," 2003. 
    8. KS B ISO 4288, "Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture : Profile method - Rules and procedures for the assessment of surface texture," 2003. 
    9. Mahr, http://www.mahr.com. 
  • 이 논문을 인용한 문헌 (1)

    1. Kim, Jun-Woo ; Kang, Dong-Su ; Lee, Hyun-Yong ; Lee, Sang-Hyeon ; Ko, Seong-Woo ; Roh, Jae-Seung 2013. "Change of Surface and Electrical Characteristics of Silicon Wafer by Wet Etching(2) - Relationship between Surface Roughness and Electrical Properties -" 한국재료학회지 = Korean journal of materials research, 23(6): 322~328     

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