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Calibration procedures for frictional measurements with a lateral force microscope

Liu, E. (Corresponding author. ) ; Blanpain, B. (Departement Metaalkunde en Toegepaste Materiaalkunde, Katholieke Universiteit Leuven, de Croylaan 2, B-3001 Leuven, Belgium ) ; Celis, J.P. (Departement Metaalkunde en Toegepaste Materiaalkunde, Katholieke Universiteit Leuven, de Croylaan 2, B-3001 Leuven, Belgium ) ;
  • 초록  

    Abstract This paper outlines a procedure for the calibration of the lateral force applied to a triangular cantilever tip by means of a lateral force microscope. The force is directed perpendicular to the cantilever major axis. The lateral force results in a torsion of the cantilever. The torsion signal is monitored as a voltage on a four-sector photodiode. The conversion from a torsion signal to a lateral force depends on the optical geometry of the instrument and the cantilever shape, dimensions and material properties. The calibration procedure used requires a calculation of the elasticity of the cantilever and experimental data. In case tripping forces are ignored, the lateral force can be taken as the friction force.


  • 주제어

    Lateral force microscopy .   Calibration .   Nanotribology.  

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