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Cryogenics v.36 no.6, 1996년, pp.491 - 494  

Tensile strain/transverse compressive stress dependence of critical current in Ag-sheathed Bi(2212) 7-core superconducting wires

Katagiri, K. ; Shin, H.S. ; Shoji, Y. ; Ebisawa, N. ; Watanabe, K. ; Noto, K. ; Okada, T. ; Hiraoka, M. ; Yuya, S. ;
  • 초록  

    Abstract The mechanical properties and tensile strain/transverse compressive stress dependence of the critical current I c in Ag-sheathed Bi(2212) 7-core superconducting wires of different constructions were evaluated at a temperature of 4.2 K and a magnetic field of 14 T. The increase in the volume fraction of the superconductor shifted the stress-strain curves upwards. The tensile strain for I c degradation onset was in the range 0.14–0.27%. This strain depends upon the residual compressive strain and the thickness of the superconductor layer. On the other hand, the transverse compressive stress for I c degradation onset was in the range 9–20 MPa. Wires with a thin Ag-sheath layer showed a remarkably low stress for I c degradation onset. There was no welldefined correlation between the onset stress for degradation of I c caused by the tensile stress and that caused by the transverse compressive stress.


  • 주제어

    Ag-sheathed 7-core wires .   Bi(2212) superconductor .   tensile strain .   transverse compressive stress.  

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