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Current applied physics : the official journal of the Korean Physical Society v.12 no.5, 2012년, pp.1334 - 1339   SCI SCIE
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Structural properties of nano 5, 10, 15, 20-Tetraphenyl-21H,23H-porphine nickel (II) thin films

Dongol, M.    (Nano & Thin Film Laboratory, Physics Department, Faculty of Science, South Valley University, Qena 83523, Egypt  ); El-Denglawey, A.   Elhady, A.F.   Abuelwafa, A.A.  
  • 초록

    Thin films of 5,10,15,20-Tetraphenyl-21H,23H-porphine-nickel(II) were prepared by thermal evaporation technique onto clean quartz and glass substrates. Thermogravimetric analysis, X-Ray Diffraction, Scanning Electron Microscope, Transmission Electron Microscope and Fourier transforms infrared spectroscopy were used to investigate the structural properties of the as-prepared and annealed 5,10,15,20-Tetraphenyl-21H,23H-porphine-nickel(II) films. Morphology, crystallite size and dislocation density were enhanced by annealing and included within nanometric scale. The crystallite sizes were 98 nm for powder form and 13, 41.4 and 64.7 nm for the annealed films at 373, 473 and 573 K respectively. Fourier transforms infrared spectroscopy studies released that powder, as-prepared and annealed NiTPP films were stoichiometric. The obtained films were characterized by nanostructure property.


  • 주제어

    Amorphous materials .   Nanostructures .   Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR) .   Electron microscopy (STEM, TEM and SEM).  

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