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보고서 상세정보

나노구조의 원자배열 분석기술
Atomic level Analysis on the Nanostructured Materials

  • 사업명

    21세기프론티어연구개발사업

  • 과제명

    전기전도도 측정에 의한 나노구조의 연속적인 변화거동 분석기술

  • 주관연구기관

    한국과학기술연구원
    Korea Institute Of Science and Technology

  • 연구책임자

    홍경태

  • 참여연구자

    윤진국   옥명렬  

  • 보고서유형

    2단계보고서

  • 발행국가

    대한민국

  • 언어

    한국어

  • 발행년월

    2008-06

  • 과제시작년도

    2007

  • 주관부처

    과학기술부

  • 사업 관리 기관

    한국과학재단
    Korea Science and Engineering Foundtion

  • 등록번호

    TRKO201000012146

  • 과제고유번호

    1355049016

  • 키워드

    전기전도도측정.중성자/X-선 소각산란.나노구조분석.벌크비정질합금.electrical resistivity.SAXS/SANS.nanostructure.bulk metallic glass.3DAP.

  • DB 구축일자

    2013-04-18

  • 초록 


    Internal phase transition process can cause the change of some physical properties of materials, and by monitoring those physical...

    Internal phase transition process can cause the change of some physical properties of materials, and by monitoring those physical properties, structural change can be measured sensitively. One of those properties, electrical resistivity measurement was used to continuously monitor nanostructural transition. In the continuous manner of phase transition, some intermittent states are chosen, considering scientific meaning of them, and various analysis techniques that can measure the atomic structures and nanophases were applied to them. 3DAP, SAXS/SANS, TEM, and EXAFS techniques were used in this research. The results can be applied to the design of new nanomaterials or enhancement of existing nanostructured materials. One of the most important achievement of this research is the setup of methodology to organize and systemize the application of various level of analytical tools. Also, international cooperation between Korea and Japan was also enhanced and some fundamental infra could be setup with this project.


    1. 전기전도도 측정에 의한 나노구조의 연속적인 변화거동 분석기술, 한국과학기술연구원, 홍경태
    -과냉각액상영역에서의 등온 전기비저항 측정을 연속적으로 수행하여 결정화 거동을 분석하였고, 그 각 중간 단계의 샘플의 나노구조를 X...

    1. 전기전도도 측정에 의한 나노구조의 연속적인 변화거동 분석기술, 한국과학기술연구원, 홍경태
    -과냉각액상영역에서의 등온 전기비저항 측정을 연속적으로 수행하여 결정화 거동을 분석하였고, 그 각 중간 단계의 샘플의 나노구조를 XRD, TEM 등을 이용하여 종합적으로 해석함.
    -X-선/중성자 소각산란 및 EXAFS 분석등을 연계하여 결정상의 성장 메커니즘을 연구하고, 이를 바탕으로 결정화 kinetics 정량화.
    -X-선/중성자를 이용한 나노박막 및 계면구조 분석 장치 구축 및 분석
    2. 나노구조의 원자배열 분석 기술, 한국과학기술연구원, 홍경태
    -등온 전기비저항 측정을 통한 상변화거동 연속 측정
    -X-선/중성자를 이용한 나노박막 및 계면구조 분석 장치 구축 및 분석
    -3DAP를 이용한 원자배열 측정 및 나노구조 분석
    -상기 결과들과 기존의 XRD, TEM, X-선/중성자 소각산란 및 EXAFS 분석 등을 연계하여 나노구조의 상변화 매커니즘을 연구하고, 이를 바탕으로 상변화 거동 정량화 및 나노재료 개발에의 응용.


  • 목차(Contents) 

    1. 표지...1
    2. 제출문 ...2
    3. 보고서초록 ...3
    4. 요약문 ...4
    5. SUMMARY...6
    6. CONTENTS...7
    7. 목차 ...8
    8. I. 전기전도도 측정에 의한 나노구조의 연속적인 변화거동 분석기술 ...9
    9. 제1장 연구개발과제의 개요 ...9...
    1. 표지...1
    2. 제출문 ...2
    3. 보고서초록 ...3
    4. 요약문 ...4
    5. SUMMARY...6
    6. CONTENTS...7
    7. 목차 ...8
    8. I. 전기전도도 측정에 의한 나노구조의 연속적인 변화거동 분석기술 ...9
    9. 제1장 연구개발과제의 개요 ...9
    10. 제2장 국내외 기술개발 현황 ...11
    11. 2.1. 원자 단위의 조성 및 배열 분석기술 동향 개요 ...11
    12. 2.2. X-선 및 중성자선을 이용한 국내외 나노소재 분야 기술 이용 현황 ...12
    13. 제3장 연구개발수행 내용 및 결과 ...14
    14. 3.1. 전기전도도 측정성 및 배열 분석기술 동향 개요 ...14
    15. 3.2. 중성자 및 x-선을 이용한 구조분석 ...16
    16. 3.3. 벌크비정질 합금의 결정화 거동 ...18
    17. 3.4. 중성자/x-선을 이용한 나노박막 및 계면의 구조분석 ...28
    18. 3.4.1. 연구수행 범위 및 연구수행 방법 ...28
    19. 3.4.2. 주요 연구 성과 ...28
    20. 제4장 목표달성도 및 관련분야에의 기여도 ...31
    21. 4.1. 연구목표의 달성도 ...31
    22. 4.2. 연구 내용의 관련분야 기여도 ...33
    23. 4.2.1. 주관과제의 관련 분야 기여도 ...33
    24. 4.2.2. 위탁과제 (서강대) 관련분야 기여도 ...33
    25. 제5장 연구개발결과의 활용계획 ...35
    26. 제6장 연구개발과정에서 수집한 해외과학기술정보 ...36
    27. 제7장 참고문헌 ...37
  • 참고문헌

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