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보고서 상세정보

GEM검출기를 이용한 전자빔의 프로파일 측정
Measurement of the profile of electron beam by GEM detector

  • 사업명

    원자력연구기반확충사업

  • 과제명

    GEM검출기를 이용한 전자빔의 프로파일 측정

  • 주관연구기관

    창원대학교
    Changwon National University

  • 연구책임자

    김일곤

  • 참여연구자

    하성용   김곤우   추문식  

  • 보고서유형

    최종보고서

  • 발행국가

    대한민국

  • 언어

    한국어

  • 발행년월

    2010-07

  • 과제시작년도

    2009

  • 주관부처

    교육과학기술부

  • 사업 관리 기관

    한국연구재단

  • 등록번호

    TRKO201000014006

  • 과제고유번호

    1345099212

  • 키워드

    전자빔.X-선.기체전자증폭기.티타늄.Fe-방사선원.Electron beam.X-ray.GEM.Ti.Fe-source.

  • DB 구축일자

    2013-04-18

  • 초록 


    When the electron beam(1.0 or 2.0 MeV) was irradiated onto the GEM detector, we have investigated the operation characteristics o...

    When the electron beam(1.0 or 2.0 MeV) was irradiated onto the GEM detector, we have investigated the operation characteristics of detector.
    If the electron beam(1.0 or 2.0MeV) was irradiated on the surface of GEM detector, the X-ray was generated in metal surface of the window, GEM foil and anode pad. As the X-ray collided to the mixed gas in the chamber, the argon gas was ionized and a electron was created. On the other hand, a electron was also created as the electron collides to the argon gas directly.
    We could not distinguish two electrons yet.
    2. KAERI's electron beam is moved periodically along Lissajous pattern. Thus the beam intensity is instantaneously changed. The period of beam is 43.5$\mu$s. By using GEM detector, we will measure the intensity of electron beam(1.0 or 2.0MeV) at a point on the plane which is irradiated. The momentary intensity of beam is measured by the oscilloscope and then the spectrum is stored by PC
    3. We have been measured the intensity of cross sectional area of electron beam by translating GEM detector along the linear axis. The electron beam(1.0 or 2.0MeV) was fixed at the minimum current, 0.03mA. When the electron beam was irradiated on the detector, we have been measured the spectrum of electron beam by using the home made electronic circuit. And the measuring result was rearranged on PC.
    4.. By using mutichannel GEM detector, we have been directly measured the intensity of cross sectional area of electron.


    본 연구의 목적인 전자빔의 프로파일 측정을 위하여 다음의 세부 과제를 계획하고, 수행하였다.
    1) 이단 GEM 검출기의 제작
    2) 제작한 GEM 검출기의 성능 실험
    3) 검출기를 이동하는데 사용할 이동 장치의 제작과...

    본 연구의 목적인 전자빔의 프로파일 측정을 위하여 다음의 세부 과제를 계획하고, 수행하였다.
    1) 이단 GEM 검출기의 제작
    2) 제작한 GEM 검출기의 성능 실험
    3) 검출기를 이동하는데 사용할 이동 장치의 제작과 성능 실험
    4) 전자빔 측정을 위한 Fe-55에 대한 예비 실험
    5) 전자빔 측정 실험
    실제 전자빔 발생 장치에 검출기를 배치하고, 전자빔 측정 실험을 수행한다.


  • 목차(Contents) 

    1. 제출문...1
    2. 보고서 요약서...1
    3. 요약문...3
    4. SUMMARY...9
    5. 목차...11
    6. 제1장 연구개발과제의 개요...12
    7. 제1절 기술적 측면...12
    8. 제2절 경제적 측면...12
    9. 제3절 사회적 측면...12
    10. 제2장 국내외 기...
    1. 제출문...1
    2. 보고서 요약서...1
    3. 요약문...3
    4. SUMMARY...9
    5. 목차...11
    6. 제1장 연구개발과제의 개요...12
    7. 제1절 기술적 측면...12
    8. 제2절 경제적 측면...12
    9. 제3절 사회적 측면...12
    10. 제2장 국내외 기술개발 현황...13
    11. 제3장 연구개발수행 내용 및 결과...14
    12. 제1절 연구개발의 내용...14
    13. 제2절 추진과정...14
    14. 제3절 연구결과...15
    15. 제4장 목표달성도 및 관련분야에의 기여도...24
    16. 제1절 검출기의 제작과 실험 준비...24
    17. 제2절검출기의 특성 조사...24
    18. 제3절 Fe-55 방사선원의 공간 분포 측정...24
    19. 제4절 전자빔을 조사면의 한 점에서의 세기 측정...24
    20. 제5절 이동 장치를 이용한 전자빔 방사면 단면의 세기 측정...25
    21. 제6절 결과 분석...25
    22. 제5장 연구개발결과의 활용계획...26
    23. 제1절 경제적 측면...26
    24. 제2절 사회적 측면...26
    25. 제3절 기술적 측면...26
    26. 제6장 연구개발과정에서 수집한 해외과학기술정보...27
    27. 제7장 참고문헌...28
  • 참고문헌

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